[发明专利]影像感测件、光学结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202011479301.9 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112992946A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 陈柏瀚;李国政;张復诚 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;G02B5/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种影像感测件、光学结构及其形成方法,光感元件可形成在半导体基材的前侧。具有第一折射率的光学折射层可形成在半导体基材的背侧。包含开口的栅格结构形成在光学折射层上。遮蔽材料层形成在栅格结构及光学折射层上。利用非等向性蚀刻制程对遮蔽材料层进行非等向性蚀刻,并连带蚀刻光学折射层的材料,以于光学折射层的物理暴露区形成非平面远端表面部分,其中此些非平面远端表面部分包含随机突出部。光学透明层可形成于光学折射层的非平面远端表面部分,且光学透明层具有不同于第一折射率的第二折射率。折射界面将入射光折射至随机方向,且改善光感元件的量子效率。
搜索关键词: 影像 感测件 光学 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011479301.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top