[发明专利]三维存储器的制备方法在审
申请号: | 202011480067.1 | 申请日: | 2020-12-15 |
公开(公告)号: | CN112635485A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 王二伟;杜明利;李君 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/1157 | 分类号: | H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供了三维存储器的制备方法,包括提供初始三维存储器,初始三维存储器包括衬底、覆盖衬底的堆栈结构、以及贯穿堆栈结构的NAND串,NAND串背离衬底的一侧具有凹槽。形成填充凹槽的第一插塞层、以及覆盖堆栈结构的第二插塞层。形成覆盖第二插塞层的第一保护层。去除部分第一保护层与部分堆栈结构以形成台阶结构。去除第一保护层。本申请在制备插塞层后,仍保留第二插塞层,随后在第二插塞层上形成第一保护层。在采用湿法蚀刻法去除第一保护层时,可避免第二插塞层与蚀刻液发生反应,防止第二插塞层被破坏。并且由于第二插塞层在湿法蚀刻时未被破坏,可进一步保护第二插塞层覆盖的三维存储器的结构,保证了三维存储器结构的完整性。 | ||
搜索关键词: | 三维 存储器 制备 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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