[发明专利]一种辐射单元及其组件的电性能测试装置及方法有效
| 申请号： | 202011481884.9 | 申请日： | 2020-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN112684270B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 吉红伟;卞玉柱;徐李刚;郭祥雨;贾文铮 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 吴佳 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种辐射单元及其组件的电性能测试装置及方法，电性能测试装置包括支撑框架以及安装在支撑框架上的XY两轴驱动模组、YZ两轴驱动模组、电性能测试仪、支撑框架和辐射单元工装夹具，所述XY两轴驱动模组安装在所述支撑框架上并驱动所述辐射单元工装夹具在水平面移动，所述YZ驱动模组安装在所述支撑框架内并驱动所述电性能测试仪的电调插头在竖直面移动以对辐射单元工装夹具内的辐射辐射单元进行电性能测试。本发明采用XY两轴驱动模组和YZ两轴驱动模组配合，分别驱动辐射单元工装夹具和电调插头移动，可以实现辐射单元及其组件电性能的快速检测，提高了测试效率，也为后续辐射单元的尺寸参数与电性能关联分析打下基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 单元 及其 组件 性能 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电测量研究所，未经北京无线电测量研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011481884.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
