[发明专利]激光装置、测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202011484384.0 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN113013719A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 小松崎晋路;高桥智隆;氏原大希 申请(专利权)人: 株式会社三丰;株式会社3D创新
主分类号: H01S3/106 分类号: H01S3/106;H01S3/067;H01S3/10;G01S7/481;G01S7/4911;G01S17/34
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邓亚楠
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了激光装置110、测量装置100和测量方法,其中激光装置110输出具有多种模式的调频激光束且包括:光学腔,其具有用于放大要输入的光的增益介质114,以及用于移位由增益介质放大的光的频率的光学SSB调制器30;以及控制部件50,其控制光学SSB调制器30以移位要输入到光学SSB调制器30的光的频率。
搜索关键词: 激光 装置 测量 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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