[发明专利]掩模版及其制备方法、光刻机在审
申请号: | 202011486091.6 | 申请日: | 2020-12-16 |
公开(公告)号: | CN112612177A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 郑海昌;吴隆武;王晓龙 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G03F1/40 | 分类号: | G03F1/40;G03F1/48;G03F1/54 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
地址: | 201315*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种掩模版及其制备方法、光刻机。其中,所述掩模版包括衬底,所述衬底上依次形成有吸收层和硬掩模层,所述吸收层和所述硬掩模层内均形成有环状开口以暴露部分所述衬底,所述开口内填充有绝缘吸光材料,以在所述衬底上形成吸光的防静电环状结构。本发明提供的掩模版及其制备方法、光刻机通过在掩模版的防静电环状结构中填充绝缘的吸光材料,在防静电的同时吸收并隔绝到达所述防静电环状结构处的杂散光,以改善光刻机的漏光情况,同时减少半导体器件中不必要的特征尺寸差异,从而避免出现重影。 | ||
搜索关键词: | 模版 及其 制备 方法 光刻 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011486091.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像传感器的版图结构
- 下一篇:一种用于被动房的保温墙体的制备工艺
- 同类专利
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备