[发明专利]一种数字掩膜投影光刻的多重曝光方法在审

专利信息
申请号: 202011488602.8 申请日: 2020-12-16
公开(公告)号: CN112596347A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 赵圆圆;段宣明;陈经涛 申请(专利权)人: 暨南大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 张金福
地址: 510632 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种数字掩膜投影光刻的多重曝光方法,包括以下步骤:将目标光刻版图的密集图案拆解为N个低密度稀疏光刻图案;利用空间光调制器对曝光光束进行空间像素化调制,生成N个低密度稀疏数字掩膜图案;衬底上涂覆有光刻胶,N个低密度稀疏数字掩膜图案经过投影物镜成像于光刻胶,并交替曝光N次;进行后处理,最终得到高密度纳米线阵列光刻图案。本发明通过交替曝光N次低密度稀疏图案(最小周期不小于λ/2),将纳米线条的密度提高N倍,实现密集图案曝光(最小周期可小于λ/2),显著提高了投影光刻分辨率。另外,由于空间光调制器的组件中像素间距固定不存在对准误差,因此无需实体掩模板的套刻对准的步骤,即可实现一次涂胶的多重曝光工艺。
搜索关键词: 一种 数字 投影 光刻 多重 曝光 方法
【主权项】:
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