[发明专利]一种基于神经网络的分子筛X射线衍射图谱峰位置的预测方法在审

专利信息
申请号: 202011495983.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112614550A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 杜文莉;钱锋;钟伟民;彭鑫 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G16C20/30 分类号: G16C20/30;G16C20/10;G16C20/70;G06N3/08;G06N3/04
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陶玉龙;陆嘉
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及分子筛催化剂工艺领域,更具体的说,涉及一种基于神经网络的分子筛X射线衍射图谱峰位置的预测方法。本发明提出的预测方法,包括以下步骤:S1、获取原始样本数据,构建原始数据集;S2、对分子筛的原始数据集进行筛查;S3、在筛选后的数据集中,得到具有唯一性的操作工况及对应的表征图谱;S4、提取XRD表征图谱中的峰位置信息;S5、构造用于模型训练的结构化数据,并将整个数据集划分为训练集和验证集;S6、建立并训练神经网络模型,得到两个预测模型进行产物的XRD峰的预测。本发明只需要历史存储的合成数据便可进行建模,预测精度高,从而有针对性的对实验操作工况条件进行改动,减少实验成本,提升合成实验的效率。
搜索关键词: 一种 基于 神经网络 分子筛 射线 衍射 图谱 位置 预测 方法
【主权项】:
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