[发明专利]一种导体面电流密度分布的测量系统及测量方法有效
申请号: | 202011496049.2 | 申请日: | 2020-12-17 |
公开(公告)号: | CN112557736B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 张正卿;吴钫;廖于翔;帅骁睿;张鹏程;吴浩伟;李锐;蔡凯;李鹏;汪文涛;蔡久青;孔祥伟;金翔;李小谦;邓磊;姜波;李可维;张炜龙;邢贺鹏;金惠峰;周樑;陈涛;罗伟;魏华 | 申请(专利权)人: | 武汉第二船舶设计研究所(中国船舶重工集团公司第七一九研究所) |
主分类号: | G01R19/08 | 分类号: | G01R19/08 |
代理公司: | 北京律谱知识产权代理有限公司 11457 | 代理人: | 黄云铎 |
地址: | 430205 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提出一种导体面电流密度分布的测量系统包括测量探针、电流测量传感器、放大电路和数字信号处理模块;测量探针中探针基材是多层柔性电路板;磁通环线圈阵列是沿面电流密度分布方向布置的多组磁通环线圈;磁通环线圈与信号端子的正负连接线分别布置于基材相邻的两层,且正负连接线最近距离平行布置;电流测量传感器用于测量通流导体总电流幅值;放大电路与输出信号端子连接;数字信号处理模块结合测量探针与电流测量传感器测量结果,可以得到导体面电流密度时空分布。本发明所述的一种导体面电流密度测量方法,基于磁场测量反演,方法有效,外部电路简捷,数字信号处理流程高效,适应于导体交变和瞬态面电流密度时空分布的测量需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 导体 电流密度 分布 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
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