[发明专利]一种MBIST电路系统有效
| 申请号： | 202011496194.0 | 申请日： | 2020-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN112614534B | 公开（公告）日： | 2023-09-05 |
| 发明（设计）人： | 李璋辉;何再生 | 申请（专利权）人： | 珠海一微半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519000 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种MBIST电路系统，该MBIST电路系统支持外部访问芯片内部的条件下，根据MBIST状态寄存器组配置的测试控制信息和MBIST时钟源产生模块提供的时钟源，控制每一个SRAM扫描测试模块按照匹配的测试时钟信号、特定的顺序对不同块SRAM进行MBIST测试，本发明还通过寄存器配置结构复用的方式，同步完成多块SRAM的测试，简化MBIST的逻辑架构，提高测试效率和测试复用的有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mbist 电路 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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