[发明专利]基于卷积神经网络的包裹相位去噪方法、系统和存储介质

摘要

本申请公开了一种基于卷积神经网络的包裹相位去噪方法、系统和存储介质，所述方法包括：根据相移步数采集若干条纹图像；根据条纹图像和相移步数，计算包裹相位的相位函数中反正切函数的分母和分子；将分母输入卷积神经网络中，获取分母噪声；将分母减去分母噪声获取除噪分母；将分子输入卷积神经网络中，获取分子噪声；将分子减去分子噪声获取除噪分子；根据除噪分母和除噪分子计算包裹相位。本申请实施例通过卷积神经网络对含噪的包裹相位中反正切函数的含噪分子和含噪分母进行去噪，随后使用反正切函数获取去噪的包裹相位，本申请的包裹相位去噪方法的去噪效率更高。本申请可广泛应用于光学测量技术领域中。