[发明专利]一种金黑薄膜吸收率计算模拟方法有效
| 申请号： | 202011504047.3 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112613173B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 杨苏辉;郝燕;李卓;王欣;张金英 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 | 代理人： | 王颖 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种金黑薄膜吸收率计算模拟方法，包括：步骤S1、根据预设参数构建金黑模型，所述金黑模型由多个团簇组成，所述团簇之间均匀分布，且所述团簇内部的金黑粒子呈现高斯分布；步骤S2、根据所述团簇入射光的反射率和透过率，计算所述金黑模型的吸收率；步骤S3、调整所述团簇间的排布方式，直至所述吸收率与实验结果的误差达到预期标准。采用本发明的技术方案，可为金黑薄膜的设计提供理论参考依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 吸收率 计算 模拟 方法 | ||
【主权项】：
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