[发明专利]NORD flash制造方法、器件和存储介质有效

专利信息
申请号: 202011504341.4 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112652626B 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 张剑;熊伟;陈华伦 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L27/11531
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦天雷
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种NORD flash制造方法,包括在硅衬底上形成memory cell区域和外围电路多晶硅栅极区域并沉积多晶硅;光刻及刻蚀去除memory cell区域的多晶硅、高压氧化层和氮化硅,保留外围电路多晶硅栅极多晶硅,并在外围电路多晶硅栅极多晶硅旋涂光刻胶;memory cell区域控制栅接触孔光刻及刻蚀,外围电路多晶硅栅极区域去除光刻胶;memory cell区域和外围电路多晶硅栅极区域沉积硬掩膜后,旋涂光刻胶并打开刻蚀外围电路多晶硅栅极光刻窗口;外围电路多晶硅栅极刻蚀,形成外围电路多晶硅栅极,去除光刻胶;形成隔离侧墙。本发明优先memory cell成型工艺,然后再进行memory cell外围电路栅极成型工艺,能减少传统工艺导致ILD填充不足以及Cell disturb的风险。
搜索关键词: nord flash 制造 方法 器件 存储 介质
【主权项】:
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