[发明专利]电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法在审
| 申请号： | 202011505966.2 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN113008939A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 吴俊斌;汤士源;唐敏注 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01N27/72 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法，其中该电磁特性测量装置包括导磁结构、线圈以及散射参数测量器。导磁结构包括面向待测样品的第一侧以及相对于所述第一侧的第二侧，其中所述第一侧具有磁隙。线圈环绕所述导磁结构，以与所述导磁结构产生磁场。散射参数测量器设置于所述第一侧并位于所述磁场的范围内。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁 特性 测量 装置 系统 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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