[发明专利]用于成像深度测量的测量装置、光学显微镜和测量方法在审
| 申请号： | 202011507388.6 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN113008134A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大·盖杜克 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B9/04 | 分类号： | G01B9/04;G01B11/22;G02B21/02;G02B21/06;G02B21/24;G02B21/36 |
| 代理公司： | 北京睿阳联合知识产权代理有限公司 11758 | 代理人： | 杨生平;王朋飞 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明所涉及的问题是改进用于成像深度测量的测量方法，测量装置和光学显微镜。为此，将物体布置在物镜的测量区域中。此外，成像装置包括物镜或通过物镜支架连接到物镜上的，其被配置为对从物体发出的光相对于物体的多个物面进行成像，以形成宽视场中间图像(wide‑field intermediate image)，其中，通过成像装置的纵向色差，物面根据来自物体的光的波长沿深度轴交错排列。此外，图像捕获装置被配置为以成像方式和相对于一个或多个可选的光谱分量解析的方式捕获宽视场中间图像，每个可选的光谱分量对应于其中一个物面。然后，以“焦点堆叠”为基础，将相对于不同物面的多个这样的宽视场中间图像组合起来，通过改变/选择相应的光谱分量及波长，来实现焦点的改变/变化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 成像 深度 测量 装置 光学 显微镜 测量方法 | ||
【主权项】：
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