[发明专利]性能测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011507525.6 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN112612686A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 何品德 | 申请（专利权）人： | 平安普惠企业管理有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/36 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 熊永强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及数据处理技术，尤其涉及一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取预设时间段内的测试数据，所述测试数据为至少一种测试模式下得到的测试数据；对所述测试数据进行处理，得到性能评价参数，所述性能评价参数包括并发用户数量和系统资源参数；根据所述性能评价参数构建数据处理模型；基于所述数据数据处理模型和所述性能评价参数确定性能拐点，并在所述数据处理模型中标记出所述性能拐点。采用本申请实施例能够依据测试数据确定测试拐点，从而，直观得到设备性能参数，提升了性能测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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