[发明专利]一种硅基红外测温滤光片及制备方法在审

专利信息
申请号: 202011510948.3 申请日: 2020-12-18
公开(公告)号: CN112505812A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 李晓飞;李瑞博 申请(专利权)人: 洛阳鼎铭光电科技有限公司
主分类号: G02B5/20 分类号: G02B5/20;G01J5/08;C23C14/16;C23C14/08;C23C14/06;C23C14/02
代理公司: 郑州银河专利代理有限公司 41158 代理人: 裴景阳
地址: 471000 河南省洛*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种硅基红外测温滤光片,包括单晶硅基底、长波通膜系结构及短波通膜系结构,其中单晶硅基底为横断面呈矩形的板状结构,长波通膜系结构包覆在单晶硅基底上端面,短波通膜系结构包覆在单晶硅基底下端面,且长波通膜系结构及短波通膜系结构的厚度均不大于1毫米,且长波通膜系结构及短波通膜系结构总厚度为单晶硅基底。其制备方法包括夹持定位,单晶硅基底预热,离子轰击,气象沉积及出炉保存等五个步骤。本发明较传统的滤光片,一方面可以实现了传统滤光片实现不了的宽波段、高精度的温度测量;另一方面生产加工工艺简单,易实现规模化、批量化作业,同时另可提高镀膜层与基板间连接关系的稳定性。
搜索关键词: 一种 红外 测温 滤光 制备 方法
【主权项】:
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