[发明专利]一种电路板缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202011511881.5 | 申请日: | 2020-12-18 |
公开(公告)号: | CN112669267A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 李佳琳;王健宗;瞿晓阳 | 申请(专利权)人: | 平安科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及检测模型,公开了一种电路板缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:获取第一图像,所述第一图像中的电路板上有缺陷;将所述第一图像输入训练好的生成网络中,得到第二图像,所述第二图像中的电路板上无缺陷;根据所述第一图像中每个像素对应的纹理特征值和所述第二图像中每个像素对应的纹理特征值,确定所述第一图像中电路板的缺陷信息;其中,所述缺陷信息包括以下至少一种:缺陷位置、缺陷面积和缺陷类型。实施本申请实施例,实现电路板缺陷的精准检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 电路板 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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