[发明专利]薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备在审
| 申请号： | 202011512154.0 | 申请日： | 2020-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN113256870A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 包宜鉴 | 申请（专利权）人： | 深圳市怡化时代科技有限公司 |
| 主分类号： | G07D7/164 | 分类号： | G07D7/164;G07D7/20 |
| 代理公司： | 深圳中细软知识产权代理有限公司 44528 | 代理人： | 袁文英 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种薄片介质厚度异常检测方法及装置、存储介质及设备，通过获取待检测薄片介质的厚度数据和目标图像来实现有效列通道的确定，实现了对待检测薄片介质边界的查找；通过有效列通道及厚度数据生成厚度波动矩阵，且该厚度波动矩阵用于表示待检测薄片介质中各个位置的厚度值偏离待检测薄片介质的厚度值中值的厚度波动值，使得能够有效提高对待检测薄片介质的厚度波动情况的确定，且通过利用该厚度波动矩阵和厚度检测模板确定待检测薄片介质的厚度是否存在异常，能够有效提高厚度异常检测的精确度，降低了误检和漏检的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 薄片 介质 厚度 异常 检测 方法 装置 存储 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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