[发明专利]多栅极场板结构HEMT器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202011512867.7 申请日: 2020-12-20
公开(公告)号: CN112635552A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 孙慧卿;夏晓宇;夏凡;马建铖;李渊;谭秀洋;张淼;郭志友;黄志辉;丁霄;王鹏霖 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H01L29/40 分类号: H01L29/40;H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 北京清控智云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11919 代理人: 仵乐娟
地址: 510000 广东省广州市天*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及多栅极场板结构HEMT器件及其制备方法,包括位于AlGaN层上的源极、第一钝化层、p型GaN区和漏极,源极和漏极位于第一钝化层的两端,p型GaN区位于第一钝化层中靠近源极;第二钝化层,形成于第一钝化层的表面;栅极形成于第二钝化层中,与p型GaN区的上表面接触;浮空栅极场板形成于栅极与漏极之间的第二钝化层中,位于第一钝化层的上表面,浮空栅极场板靠近栅极,与源极连接的源极场板,自源栅区域延伸至部分栅漏区域;与漏极连接的漏极场板,位于第二钝化层的上表面。其通过设置多栅极场板结构和源/漏场板之间的分布方式有效扩大了耗尽区域,扩宽了栅极与其之间的电场分布,提高了击穿电压。
搜索关键词: 栅极 板结 hemt 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南师范大学,未经华南师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011512867.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top