[发明专利]一种系统级集成电路的直流压降分析方法及系统有效
| 申请号： | 202011513397.6 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112307710B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 唐章宏;邹军;汲亚飞;王芬;黄承清 | 申请（专利权）人： | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人： | 杨贤 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区信*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种系统级集成电路的直流压降分析方法及系统，所述方法先将系统级集成电路划分为多个子系统，当对第m个子系统进行分析时，将第m个子系统之外的所有子系统看作一个待处理系统；对每个子系统的场域进行网格剖分，子系统的外部电路及其他子系统的过孔与该场域连接的点加入到网格剖分节点，对网格剖分节点统一编号形成统一的有限元稀疏矩阵；采用星形‑三角形变换法消除有限元稀疏矩阵中待处理系统的内部节点，获得分析第m个子系统场域的稀疏矩阵，仅对第m个子系统而非整个系统场域的稀疏矩阵进行求解，大大简化了求解过程，在保证求解精度的基础上，提高了求解速度，实现了对系统级超大规模集成电路的直流压降进行快速准确的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 集成电路 直流 分析 方法 | ||
【主权项】：
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