[发明专利]一种面向检测特征扫描不确定度的自由曲面覆盖视点自动采样方法有效
| 申请号： | 202011514285.2 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112734619B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 刘银华;赵文政 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G06T1/00 | 分类号： | G06T1/00;G06T7/73;G06T7/215;G06T7/246;G06T7/11;G06T7/60;G06T7/66;G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人： | 佘大鹏 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种面向自由曲面检测的光学视点优化及覆盖路径规划方法，该方法包括视点位姿的确定，视场内所包含检测特征点确定，视点的无碰撞路径规划等步骤；本发明实现复杂零部件高效、无碰撞的全型面检测覆盖路径规划，提高了关键特征的检测精度与效率，尤其提升了检测结果的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 检测 特征 扫描 不确定 自由 曲面 覆盖 视点 自动 采样 方法 | ||
【主权项】：
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