[发明专利]光学相干层析成像系统色散补偿方法有效

专利信息
申请号: 202011517122.X 申请日: 2020-12-21
公开(公告)号: CN112683848B 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 张茜;李中梁;王向朝;南楠;杨晨铭;欧阳君怡;刘腾 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光学相干层析成像系统色散补偿方法,通过将样品不同深度位置处的A‑line信号沿深度z方向做傅里叶变换得到干涉谱信号,以波数为自变量对干涉谱信号进行数值拟合得到不同深度处二阶色散系数。对不同深度处的二阶色散系数经过离散拉普拉斯算子处理得到的二阶微分值,体现被测样品不同层色散性质的差异度,通过提取差异度大于某个阈值的深度和该深度对应的色散系数,获得样品沿深度方向的分段位置。然后对分段后每一段的色散系数分别进行线性拟合可以得到样品所有深度的二阶色散补偿系数。本发明优点是可以自动分割出被测样品中具有不同色散性质的结构层,得到不同成像深度处的色散补偿系数,实现高精度全深度范围内的色散补偿。
搜索关键词: 光学 相干 层析 成像 系统 色散 补偿 方法
【主权项】:
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