[发明专利]同轴送粉增材制造工艺过程原位观测系统及测试方法在审
| 申请号： | 202011519521.X | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112676581A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 王浩伟;罗升;王洪泽;吴一;廉清;孙华;韩静韬 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学;安徽相邦复合材料有限公司 |
| 主分类号： | B22F12/90 | 分类号： | B22F12/90;B22F10/34;B22F10/39;B33Y30/00;B33Y50/02 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同轴送粉增材制造工艺过程原位观测系统及测试方法；该系统包括X射线产生装置，同轴送粉增材制造设备，X射线观测装置；通过在同轴送粉增材制造设备外搭设X射线产生装置，使用X射线对准所需观测进行同轴送粉增材制造工艺过程的位置，通过光学仪器成像，可以观测同轴送粉增材制造工艺过程中金属粉末熔化、匙孔形成、气孔和飞溅演化过程，并通过加入钨粉等高熔点颗粒作为示踪粒子的粒子图像测速法，来追踪熔池内部的流动细节，通过分析热输入量的变化对于熔池动态特征演化的影响规律以及建立激光参数与熔池动态特征以及缺陷演化的映射数学模型，从而获得无缺陷的同轴送粉增材制造参数区间。 | ||
| 搜索关键词： | 同轴 送粉增材 制造 工艺 过程 原位 观测 系统 测试 方法 | ||
【主权项】：
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