[发明专利]毫米波频段材料介电常数准光一体化测试设备和测量方法在审
| 申请号： | 202011525533.3 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112666402A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 冯丽颖;张娜 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 李远思 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的实施例公开一种毫米波频段材料介电常数准光一体化测试设备和测量方法，该设备包括：平台底板、第一反射镜、测试夹具、第二反射镜、第一高斯馈源和第二高斯馈源，其中所述第一反射镜、测试夹具、第二反射镜、第一高斯馈源和第二高斯馈源设置在所述平台底板上；所述测试夹具设置于所述第一反射镜和第二反射镜之间，待测样品设置在所述测试夹具上；所述第一高斯馈源用于发送波束至所述第一反射镜；所述第一反射镜将所述波束反射并重聚焦至所述待测样品；所述波束经过所述待测样品后传输至第二反射镜；所述第二反射镜将所述波束反射并重聚焦至第二高斯馈源；第二高斯馈源接收所述波束。 | ||
| 搜索关键词： | 毫米波 频段 材料 介电常数 一体化 测试 设备 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所，未经北京无线电计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011525533.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种轮胎气门受压测试装置
- 下一篇：智能丽蚜小蜂收集设备
