[发明专利]硬盘性能测试方法及模拟硬盘在审
| 申请号： | 202011525987.0 | 申请日： | 2020-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN112650635A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 许飞 | 申请（专利权）人： | 宁畅信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 郭玮 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种硬盘性能测试方法及模拟硬盘。该硬盘性能测试方法包括以下步骤：将模拟硬盘安装于振动环境中，通过模拟硬盘检测该振动环境中的振动参数并记录；将正式硬盘安装于与模拟硬盘相同的振动环境中，测试正式硬盘的读写能力，并记录读写性能参数；更换不同的振动环境重复上述操作，以获得不同振动环境中的振动参数和读写性能参数，并进行参数的分析和对比。本发明提供的硬盘性能测试方法能够完成不同振动环境中振动参数的测量以及不同振动环境中正式硬盘的读写性能参数测量，获得多组振动参数和读写性能参数，从而得出在哪种振动环境中，正式硬盘的读写性能更平稳，为振动环境优化设计提供参考数据，以便于降低正式硬盘工作时的振动影响。 | ||
| 搜索关键词： | 硬盘 性能 测试 方法 模拟 | ||
【主权项】：
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