[发明专利]基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置在审
申请号: | 202011527708.4 | 申请日: | 2020-12-22 |
公开(公告)号: | CN112650119A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 周朝阳;徐晓峰;周党生 | 申请(专利权)人: | 深圳市禾望电气股份有限公司 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042 |
代理公司: | 深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司 44380 | 代理人: | 吴雅丽 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区沙头街道天安社区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开一种基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置,其扩展方法包括:当捕获到事件发生时,将当前MCU的定时器的计数值作为事件发生时刻的低字,并根据MCU的定时器是否溢出推算得到事件发生时刻的高字,事件发生时刻的高字和事件发生时刻的低字共同组合成事件的发生时刻。本申请对事件发生时刻的测量范围的扩展具有低成本、高性能的优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 mcu 事件 发生 时刻 测量 范围 扩展 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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