[发明专利]物体表面缺陷检测方法、相关装置及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202011529483.6 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN112669271A 公开(公告)日: 2021-04-16
发明(设计)人: 刘明宇 申请(专利权)人: 深圳酷派技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/08;G01N21/88
代理公司: 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 代理人: 张晓芳
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种物体表面缺陷检测方法、相关装置及计算机存储介质,其中,该方法包括:通过双目摄像头模块采集待检测物体的图像,得到图像的特征信息,通过图像分析模块确定图像对应的深度学习模型,通过双目摄像头模块将图像的特征信息输入深度学习模块中的深度学习模型,通过深度学习模型输出检测结果。由此,本申请可以通过深度学习模块中的不同深度学习模型对不同类别物体表面的缺陷进行准确识别,以提示用户目标物体表面可能存在的缺陷等风险,使用户可以购买到自己满意的产品,提升用户体验。
搜索关键词: 物体 表面 缺陷 检测 方法 相关 装置 计算机 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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