[发明专利]一种测量微波电场强度的装置和方法有效
| 申请号： | 202011537288.8 | 申请日： | 2020-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN112730999B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 贾凤东;谢锋;张剑;刘修彬;梅炅;张怀宇;钟志萍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;王体浩 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量微波电场强度的装置和方法，属于微波通信微波电场领域，所述包括探测光光源、耦合光光源、铷原子样品池、待测微波电场、辅助微波电场、光电探测器、第一声光调制器、示波器。本发明采用辅助微波电场缀饰的里德堡原子电磁感应透明和AT分裂作为探针，测量待测微波场的电场幅度，将可直接溯源至普朗克常数的弱微波电场的探测下限提升了一到两个数量级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 微波 电场 强度 装置 方法 | ||
【主权项】：
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