[发明专利]一种异质结光探测器的制备方法及光探测器有效
申请号: | 202011538140.6 | 申请日: | 2020-12-23 |
公开(公告)号: | CN112259642B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 刘应军;王权兵;阳红涛;王任凡 | 申请(专利权)人: | 武汉敏芯半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/109 |
代理公司: | 北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448 | 代理人: | 郭晓迪 |
地址: | 430223 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种异质结光探测器的制备方法及光探测器,其中,制备方法通过对经图形化处理的第一材料层上设置一层掩膜,并使掩膜覆盖在第一材料层除异质结区域之外的表面上,再在衬底设置第二材料层,并使第二材料层在异质结区与第一材料层堆叠,不但使第二材料层在衬底上的设置方法更为灵活,避免了现有技术中需要经过有机物辅助剥离及转移来实现两种材料的堆叠,而且还能够在对第二材料层进行图形化处理时,掩膜对第一材料层进行保护,因此,本发明提供的异质结光探测器的制备方法可实现低维材料异质结制备的灵活性和规模化的同时,还使得异质结制备与CMOS工艺兼容,降低了异质结的工业制备的门槛和成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 异质结光 探测器 制备 方法 | ||
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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