[发明专利]一种用于校准风洞天平温度影响参数的高低温试验箱在审

专利信息
申请号: 202011539358.3 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN112577704A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 马洪强;杨子盟;刘兵兵;马开拓;陈丁;张梅芳 申请(专利权)人: 中国航天空气动力技术研究院
主分类号: G01M9/06 分类号: G01M9/06;G05D23/00
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 徐晓艳
地址: 100074 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于校准风洞天平温度影响参数的高低温试验箱,属于传感器环境模拟测试设备。具体包括六大部分:包括温控箱、温控箱支撑框架、天平支撑装置、六自由度调整加载头、砝码盘;被校准风洞天平安装在温控箱内,通过温控箱可以调节风洞天平周围的环境温度。温控箱支撑框架由方钢焊接而成,主要作用为留出加载空间和方便人工安装和操作。天平支撑装置和六自由度调整加载头可实现天平的六自由度姿态和载荷匹配关系的调整,并将砝码盘的连杆调整到合适位置。六自由度调整加载头实现在天平上进行6分量载荷同时加载。
搜索关键词: 一种 用于 校准 风洞 天平 温度 影响 参数 低温 试验
【主权项】:
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