[发明专利]用于正交切削过程的变形场和温度场的同步测量装置有效
| 申请号： | 202011541842.X | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112518423B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 彭芳瑜;杨明辉;黄宇;邓犇;闫蓉;韩富强 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | B23Q17/00 | 分类号： | B23Q17/00 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 孔娜;李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于精密切削加工测量相关技术领域，其公开了一种用于正交切削过程的变形场和温度场的同步测量装置，该装置包括：组合镜头系统，包括物镜、与物镜连接的分束器，物镜对准正交切削的区域，分束器用于透过红外光并且反射可见光，组合镜头系统还包括设于分束器的红外光路上的第一聚焦透镜和第一透镜以及设于分束器的可见光路上的第二聚焦透镜和第二透镜，第一聚焦透镜和第二聚焦透镜设于伸缩套筒内，分束器与第二聚焦透镜之间设有中继镜；中波红外热像仪；可见光高速相机；控制装置；处理器，处理器对红外图像和可见光图像进行处理重构获得切削过程的变形场和温度场。本申请可以实现在微尺度上对温度场和变形场的成像采集，效率高精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 正交 切削 过程 变形 温度场 同步 测量 装置 | ||
【主权项】：
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