[发明专利]光纤环温度性能测量装置及方法在审
| 申请号： | 202011546604.8 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112729339A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 王晓章;李晓;张天瑶;张卓;潘良;蒋军彪;朱启举;薛耀辉;梅春波;谭鹏立 | 申请（专利权）人： | 西安现代控制技术研究所 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 周恒 |
| 地址： | 710065 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于光纤环技术领域，具体涉及一种光纤环温度性能测量装置及方法。该装置包括：结构组件、光纤环测试模块、温度控制模块，其中，结构组件包括基座、支撑件、金属托盘、测试基准台、顶罩；光纤环测试模块包括光路组件、电路组件和结构件，用于测量光纤环的性能；温度控制模块包括加热模块、温度传感器、控制模块。本发明能够利用测量装置中的温度控制模块精确模拟实际使用环境的温度变化或温升梯度，利用光纤环测试模块测量光纤环在模拟实际使用工况下在陀螺级的零偏漂移和在惯组级的对准精度误差。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 温度 性能 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安现代控制技术研究所，未经西安现代控制技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011546604.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
