[发明专利]化学液体供应系统、测试化学液体方法以及处理半导体晶圆的方法在审
| 申请号： | 202011549498.9 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN113053729A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 张育正;潘耿辉;黄介然;李明利;陈锵泽 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/02 | 分类号： | H01L21/02;H01L21/027;H01L21/033;H01L21/306;H01L21/67 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 根据一些实施例，提供一种化学液体供应系统、测试化学液体方法以及用于处理半导体晶圆的方法。用于处理半导体晶圆的方法包含将储存化学液体的缸筒与测试管相连接。此方法亦包含将缸筒中的化学液体引导进入测试管。此外，此方法包含检测测试管中的化学液体的条件。此方法进一步包含决定是否可接受化学液体的条件。当可接受化学液体的条件时，将化学液体供应至处理半导体晶圆的处理工具处。 | ||
| 搜索关键词： | 化学 液体 供应 系统 测试 方法 以及 处理 半导体 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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