[发明专利]存储器子系统中的选择栅极维护在审

专利信息
申请号: 202011550487.2 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN113096712A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: D·M·巴图蒂斯;A·拉贾吉里;S-H·李;C·S·杨;H·R·桑吉迪 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C16/16 分类号: G11C16/16;G11C16/34
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及存储器子系统中的选择栅极维护。存储器系统中的处理装置接收擦除存储器装置的数据块的请求,确定所述数据块上执行的编程/擦除循环的数目,且执行擦除所述数据块的擦除操作。所述处理装置进一步确定所述数据块上执行的编程/擦除循环的所述数目满足扫描阈值条件,且在所述数据块上执行第一阈值电压完整性扫描以确定与所述数据块的至少一个选择栅极装置的当前阈值电压相关联的第一错误率。响应于与所述至少一个选择栅极装置的所述当前阈值电压相关联的所述第一错误率满足错误阈值准则,所述处理装置在所述至少一个选择栅极装置上执行润色操作以将所述当前阈值电压调整到所述目标阈值电压。
搜索关键词: 存储器 子系统 中的 选择 栅极 维护
【主权项】:
暂无信息
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