[发明专利]非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端有效
| 申请号： | 202011552573.7 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112464499B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 张新展;陈胜源;朱雨萌;张宇 | 申请（专利权）人： | 芯天下技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区园山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失芯片擦写数据检查方法、装置、存储介质和终端，在待测设计擦写操作完成后会将待测设计内所有数据写到一个数据存储文件中去，写完之后打开该数据存储文件并将全部数据导过来，与参考模型全部数据做对比，若对比相同则证明擦写成功，若对比不同则证明擦写失败；本技术方案无需在待测设计每次擦写操作完成后执行全芯片读操作，通过导出数据存储文件中的数据实现自动擦写数据的检查，检查操作瞬间完成，几乎不消耗仿真时间，大大节省了仿真时间，提高了仿真验证效率。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失 芯片 擦写 数据 检查 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
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