[发明专利]AlGaN基半导体紫外器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011554637.7 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN112701196B 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 王巧;刘宁炀;梁锡辉;林丹;胡金花;陈志涛 申请(专利权)人: 广东省科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 严诚
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种AlGaN基半导体紫外器件及其制备方法,涉及半导体技术领域。AlGaN基半导体紫外器件包括衬基底以及在衬基底上依次生长的缓冲层、n型电子注入层、AlGaN发光有源层、非均布量子阱结构层、p型AlGaN电子阻挡层、p型空穴注入层和接触层;AlGaN发光有源层包括沿生长方向依次层叠设置的量子阱发光层和量子势垒层,量子阱发光层包括AlxGa1‑xN,量子势垒层包括AlyGa1‑yN,其中,0.001≤xy≤1;非均布量子阱结构层包括AlGaN、且Al组分在生长方向上呈非均匀分布。这样能够有效地利用载流子分布不均匀的特性来提高器件的载流子注入效率,提升内量子效率和发光效率的提升。
搜索关键词: algan 半导体 紫外 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
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