[发明专利]一种多电源测试控制系统和装置有效
| 申请号： | 202011555767.2 | 申请日： | 2020-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN112578758B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 卢剑红;吴大畏;李晓强 | 申请（专利权）人： | 深圳市得一微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418;G01D21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种多电源测试控制系统和装置，包括主控制器、时序电源控制器、至少一个被测子系统、至少一个测试控制器；被测子系统包括一个测试电源、一个被测单元，测试电源用于给被测单元提供电能；主控制器与时序电源控制器、测试控制器连接，时序电源控制器同时与各测试电源连接，测试控制器连接至少一个被测单元，用于对被测单元进行测试。主控制器监听到测试控制器发出的请求信号后，对其中的一个被测单元上电，测试控制器对上电的被测单元进行测试，实现了对被测单元产品的自动与顺序测试，提高了测试效率，节约了人工成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电源 测试 控制系统 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市得一微电子有限责任公司，未经深圳市得一微电子有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011555767.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
