[发明专利]一种提高紫外AlInGaN发光二极管TM模出光效率的方法有效
申请号: | 202011558402.5 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112713227B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 至芯半导体(杭州)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/14;H01L33/38;H01L33/46 |
代理公司: | 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙) 11888 | 代理人: | 彭随丽 |
地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明专利公开了一种提高紫外AlInGaN发光二极管TM模出光效率的方法。随着AlInGaN发光二极管Al组分的提高,波长也会逐渐降低,同时TE模出光占主导的出光方式转变成TM模出光占主导。为了提高TM模的出光效率,本发明在刻蚀好的N型电极区和边缘电极区,首先生长钝化层,然后在钝化层区域刻蚀倒梯形结构的反射金属区。倒梯形结构区域蒸镀对紫外光有强反射效率的金属,量子阱中产生的TM光能够经过强反射金属层反射出来,极大地提升了TM模出光效率,从而提高了整个紫外AlInGaN发光二极管的发光强度。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 紫外 alingan 发光二极管 tm 模出光 效率 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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