[发明专利]针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法有效
申请号: | 202011560152.9 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112747693B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 张晓磊;左超;胡岩;沈德同;尹维 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 北京翔瓯知识产权代理有限公司 11480 | 代理人: | 向维登 |
地址: | 210000 江苏省南京市建邺*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法。首先对彩色图像中的高反光区域进行检测,将图像分为非反光区域和反光区域;对于非反光区域,采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量;对于反光区域,采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量;最后对两种三维测量结果进行融合,从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。与传统方法相比,本发明能对高反光物体自动地实现具有高完整度的三维测量,提高了条纹投影技术对高反光物体的三维测量的适用性,利于自动化的3D测量应用。 | ||
搜索关键词: | 针对 反光 物体 一种 基于 彩色 图像 检测 三维 测量方法 | ||
【主权项】:
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