[发明专利]一种进行晶圆定位检测的装置及方法在审
申请号: | 202011561618.7 | 申请日: | 2020-12-25 |
公开(公告)号: | CN112729181A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 董怀宝;刘恩龙;高飞翔 | 申请(专利权)人: | 上海广川科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 陶金龙;吴世华 |
地址: | 200444 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种进行晶圆定位检测的装置,包括晶圆盒以及位于晶圆盒一侧的检测单元,所述晶圆盒自上而下设置用于承载晶圆的装载台;所述检测单元包括控制器、检测框架以为位于检测框架中的滑轨、限位传感器、加速度传感器、检测盖和晶圆扫描传感器;其中,所述晶圆扫描传感器和加速度传感器固定在所述检测盖上,所述限位传感器固定在所述检测框架一侧;所述检测盖沿着所述滑轨上下移动;所述限位传感器、加速度传感器和晶圆扫描传感器连接至控制器;本发明提供的一种进行晶圆定位检测的装置及方法,能够快速准确地确定晶圆盒中晶圆的位置,且整个检测装置占地面积小,成本较低。 | ||
搜索关键词: | 一种 进行 定位 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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