[发明专利]一种校准系统及方法有效
| 申请号： | 202011564733.X | 申请日： | 2020-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN112731256B | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | 李嘉瑞;殷晔;安佰岳;尉晓惠;杨硕;毕硕;周庆飞 | 申请（专利权）人： | 北京航天测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/02 | 分类号： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人： | 刘蔓莉;李雪 |
| 地址： | 100041 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种校准系统及方法，该系统包括：仪表组、内部校准装置、控制终端和至少一个数字测试模块；控制终端向内部校准装置下发内部校准控制指令，在内部校准控制指令的控制下，使内部校准装置与仪表组形成第一闭合回路，通过第一闭合回路对内部校准装置的直流参数进行校准，获得标定状态的内部校准装置；控制终端向数字测试模块下发测试模块校准指令，在测试模块校准指令的控制下，使数字测试模块与标定状态的内部校准装置形成第二闭合回路，通过第二闭合回路对数字测试模块进行直流参数校准，获得标定状态下数字测试模块；利用标定状态的数字测试模块对芯片进行测试，本申请用于解决校准系统普适性差或系统冗杂，不易操作的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
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