[发明专利]接触结构主体和用于确定样本的特征的系统在审
| 申请号： | 202011567692.X | 申请日： | 2015-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN112748159A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 胜本洋一;佐藤一雅;寺门大介 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22;G01N33/49;G01N33/487 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及接触结构主体和用于确定样本的特征的系统。该接触结构包括：分离器，将样本架从测量电路物理地分离；以及接触探针，其被配置成电连接样本架的电极至测量电路，该接触探针包括。接触结构主体可以是用于确定样本的特征的系统的一部分。该系统包括用于保持样本的样本架。该样本架包括电极。该系统还包括测量电路，用于测量样本的至少一个特性。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 结构 主体 用于 确定 样本 特征 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于索尼公司，未经索尼公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011567692.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
