[发明专利]一种连续太赫兹波全内反射全息折射率全场动态测量方法有效
| 申请号： | 202011569727.3 | 申请日： | 2020-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN112730328B | 公开（公告）日： | 2022-07-05 |
| 发明（设计）人： | 王大勇;戎路;马铎轩;赵洁;王云新 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 沈波 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种连续太赫兹波全内反射全息折射率全场动态测量方法，该方法通过设计将样品放置在高阻硅棱镜上，通过离轴全息的方法记录全息图，通过角谱回传算法，从热释电探测器所记录的光强信息计算出经过硅‑样品后样品复振幅改变。通过相位改变项计算得到样品折射率的实时动态的二维分布情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连续 赫兹 波全内 反射 全息 折射率 全场 动态 测量方法 | ||
【主权项】：
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