[发明专利]软件缺陷预测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202011580379.X 申请日: 2020-12-28
公开(公告)号: CN112597038A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 刘影;郭栋;周进登;张泽奇;孙凤丽;杨隽;杨昕 申请(专利权)人: 中国航天系统科学与工程研究院
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 北京金盾律师事务所 11910 代理人: 李岩
地址: 100037 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种软件缺陷预测方法方法及系统,其中,该方法包括:数据获取步骤,用于获取软件历史仓库、缺陷分析报告及待测软件;训练样本获取步骤,用于结合所述软件历史仓库及缺陷分析报告对软件源码是否存在缺陷进行标记构造第一训练样本集,并对存在缺陷的所述软件源码标记源码段对应的缺陷类型构造第二训练样本集;模型预训练步骤,用于构建软件缺陷倾向性分类器及缺陷类型预测模型,并利用所述第一训练样本集及第二训练样本集进行训练构建软件缺陷预测模型;软件缺陷预测步骤,用于将所述待测软件利用软件缺陷预测模型进行软件缺陷预测。通过本申请,可以有效利用源码语法语义信息,缩小缺陷预测的细粒度,还可预测缺陷类型。
搜索关键词: 软件 缺陷 预测 方法 系统
【主权项】:
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