[发明专利]老化测试方法、监控装置及可读存储介质有效
申请号: | 202011585543.6 | 申请日: | 2020-12-28 |
公开(公告)号: | CN112822486B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 程致跃;潘德灼;高文周 | 申请(专利权)人: | TCL王牌电器(惠州)有限公司 |
主分类号: | H04N17/04 | 分类号: | H04N17/04;G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 宋朝政 |
地址: | 516006 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种老化测试方法、监控装置及可读存储介质,其中,该方法包括:接收老化模式指令,开始向被测显示设备发送与所述老化模式指令对应的视频信息,以使被测显示设备播放所述视频信息;向所述被测显示设备发送工作状态查询指令;接收所述被测显示设备反馈的工作状态信息,判断所述工作状态信息是否符合预设规则;若否,则生成提示信息。本发明提供的方法提高了老化测试的自动化程度,降低了人工成本,且保障了产品质量。 | ||
搜索关键词: | 老化 测试 方法 监控 装置 可读 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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