[发明专利]三轴磁传感器的测试方法及系统在审
| 申请号： | 202011585970.4 | 申请日： | 2020-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN112596015A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 郭慧芳 | 申请（专利权）人： | 上海矽睿科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 201815 上海市长*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种三轴磁传感器的测试方法及系统，所述测试方法包括：将被测三轴磁传感器置入三轴亥姆霍兹线圈中；单独施加X轴、Y轴、Z轴恒定的磁场，并记录在每个轴磁场下X轴、Y轴、Z轴三个轴的输出；通过迭代计算得到设定参数的值；对计算结果进行判断，达到或小于设定的精度时，停止计算，否则继续迭代；利用计算的结果，对三轴传感器进行角度补偿，输出不同磁场下的扫描曲线，得到测试结果。本发明提出的三轴磁传感器的测试方法及系统，可获取芯片的自身灵敏度以及跨轴灵敏度，提高三轴磁传感器的检测精度及检测灵敏度。 | ||
| 搜索关键词： | 三轴磁 传感器 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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