[发明专利]象限光电探测器频率响应特性参数测量装置有效
| 申请号： | 202011589371.X | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112858805B | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 孟庆安;樊红英;蒋泽伟;张浩;陈好;王询;高伟翔 | 申请（专利权）人： | 西南技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 辛海明 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种象限光电探测器频率响应特性参数测量装置，属于光电检测领域。本发明的装置包括扫频激光激励光源1、光纤分束模块2、高速光电探测模块3、激光聚焦扫描模块4、象限光电探测器适配模块5、信号调理模块6、高速数据采集存储模块7、数据处理模块8以及输入输出接口模块9，本发明利用高速扫频激光信号作为激励，结合基于激光探测器等效电路模型的激光探测器频率响应参数拟合算法，实现象限光电探测器频率响应特性参数测量，实现象限光电探测器频率响应特性参数测量，有效解决了现有光电探测器频率响应特性参数测量装置测量过程繁琐，测试耗时长且易受外界噪声干扰的问题，满足象限光电探测器的科研生产的测量需求。 | ||
| 搜索关键词： | 象限 光电 探测器 频率响应 特性 参数 测量 装置 | ||
【主权项】：
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