[发明专利]小型化焦平面阵列测试数据采集和显示系统设计方法有效
| 申请号： | 202011592466.7 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112926277B | 公开（公告）日： | 2022-10-25 |
| 发明（设计）人： | 袁鎏;李潇;黄海华;孔繁林;路小龙;柯尊贵;周小燕 | 申请（专利权）人： | 西南技术物理研究所 |
| 主分类号： | G06F30/327 | 分类号： | G06F30/327;G06F30/34;G06F15/78 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 张然 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种小型化焦平面阵列测试数据采集和显示系统设计方法，其中，包括：S1、确定焦平面阵列测试数据采集和显示系统的总体架构；S2、在下位机中，对SoC芯片中的FPGA部分进行数字逻辑设计，提供焦平面阵列所需的工作时序并采集焦平面阵列获取的数据，工作时序信号与主时钟同步；S3、在下位机中，对SoC芯片中的ARM部分进行高级语言程序设计，采用双中断技术处理分别来自FPGA和上位机的中断请求，实现上位机与下位机的数据交换；S4、在上位机中，采用.NET框架设计图形界面对下位机进行控制，实现数据接收和解码，利用OpenTK以三维或二维模式对解码后的数据进行实时显示。 | ||
| 搜索关键词： | 小型化 平面 阵列 测试数据 采集 显示 系统 设计 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南技术物理研究所，未经西南技术物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011592466.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
