[发明专利]一种芯片SDK接口自动化测试方法和系统在审
| 申请号： | 202011594268.4 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112698996A | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 白鹏;王晨辉;张晓龙;雷宇龙;彭金辉;卫志刚 | 申请（专利权）人： | 郑州信大捷安信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人： | 张立强 |
| 地址： | 450000 河南省*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片SDK接口自动化测试方法和系统。该方法包括：将不同类型的芯片卡库接口进行统一封装为卡库SDK，编写卡库接口测试应用APK并安装在测试设备上，测试应用APK集成所述卡库SDK；将不同类型的芯片置于测试设备上；测试应用APK调用卡库SDK的getAll接口以枚举出不同类型的芯片；若getAll接口枚举到目标芯片，则验证目标芯片对应的卡库JNI接口，并校验JNI接口返回结果是否正确；结合jenkins持续进行打包测试。该系统包括：测试设备和测试管理设备，测试设备对各个芯片的卡库JNI接口进行自动化测试，并将测试结果发送给测试管理设备，通知给测试管理人员。本发明解决不同芯片类型卡库SDK接口测试过程中编写多套测试代码的问题，并结合自动化测试框架提升测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 sdk 接口 自动化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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