[发明专利]基准电压自动校准的测试方法、装置、存储介质和终端在审
| 申请号： | 202011594557.4 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112578270A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 唐维强;龙冬庆;吴彤彤 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基准电压自动校准的测试方法、装置、存储介质和终端，发送一个目标基准电压，通过比较器比较芯片的基准电压与目标基准电压的大小，若基准电压大于目标基准电压，则减小基准电压，直至基准电压与目标基准电压的差值落入误差范围内；若基准电压小于目标基准电压，则增大基准电压，直至基准电压与目标基准电压的差值落入误差范围内；通过将传统的直接测量芯片的基准电压的做法改为将基准电压与设定的目标基准电压进行比较，通过两者的差值对基准电压进行校准，目标基准电压通过低阶测试机生成，整个过程无需使用高阶测试机，大大降低了测试的成本；而且整个过程只涉电压值的大小比较，测试程序简单，可操作性强。 | ||
| 搜索关键词： | 基准 电压 自动 校准 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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